加速試驗
1.加速試驗概述
加速試驗是指在保證不改變產(chǎn)品失效機理的前提下,通過強化試驗條件,使受試產(chǎn)品加速失效,以便在較短時間內獲得必要信息,來評估產(chǎn)品在正常條件下的可靠性或壽命指標.通過加速試驗,可迅速查明產(chǎn)品的失效原因,快速評定產(chǎn)品的可靠性指標。
2.加速試驗的目的與特點
進行加速試驗的目的可概括如下：
（1）為了適應日益激烈的競爭環(huán)境；
（2）在盡可能短的時間內將產(chǎn)品投入市場；
（3）滿足用戶預期的需要。
加速試驗是一種在給定的試驗時間內獲得比在正常條件下（可能獲得的信息）更多的信息的方法。它是通過采用比設備在正常使用中所經(jīng)受的環(huán)境更為嚴酷的試驗環(huán)境來實現(xiàn)這一點的。由于使用更高的應力，在進行加速試驗時必須注意不能引入在正常使用中不會發(fā)生的故障模式。在加速試驗中要單獨或者綜合使用加速因子，主要包括：
- 更高頻率的功率循環(huán)；
- 更高的振動水平；
- 高濕度；
- 更嚴酷的溫度循環(huán)；
- 更高的溫度。
3.加速試驗分類
加速試驗主要分為兩類，每一類都有明確的目的：
（1）加速壽命試驗--估計壽命；
（2）加速應力試驗--確定（或證實）和糾正薄弱環(huán)節(jié)。
這兩類加速試驗之間的區(qū)別盡管細微，但卻很重要，它們的區(qū)別主要表現(xiàn)在下述幾個方面：作為試驗的基礎的基本假設、構建試驗時所用的模型、所用的試驗設備和場所、試驗的實施方法、分析和解釋試驗數(shù)據(jù)的方法。表1對這兩類主要的加速試驗進行了比較。
| 試驗 | 目的與方法 | 注解 |
| 加速壽命試驗（ALT） | 使用與可靠性（或者壽命）有關的模型，通過比正常使用時所預期的更高 的應力條件下的試驗來度量可靠性（或壽命），以確定壽命多長。 | 要求： 了解預期的失效機理； 了解關于加速該失效機理的大量信息，作為加速應力的函數(shù) |
| 加速應力試驗（AST） | 施加加速環(huán)境應力使?jié)撛诘娜毕莼蛘咴O計的薄弱環(huán)節(jié)發(fā)展為實際的失效， 確認可能導致使用中失效的設計、分配或者制造過程問題。 | 要求: 充分理解（至少要足夠了解）基本的失效機理。 對產(chǎn)品壽命的影響問題作出估計。 |
4.加速試驗的產(chǎn)品層次
要明確進行加速試驗的產(chǎn)品層次（級別）是設備級還是零部件級，這一點很重要。某些加速方法只適用于零件級的試驗，而有的方法只能用于較高級別的總成（設備），只有少數(shù)方法同時適用于零件級和總成（設備）級。對零件級非常合適的基本假設和建模方法在對較高級別的設備進行試驗時可能完全不成立，反之亦然。表2列出了在兩個主要的級別（設備級和零部件級）上進行試驗的信息。
| 級別 | 限制（局限） | 注解 |
| 設備級 | 通常非常有限，很少進行。要建立起設備在高應力下與正常使用條件下的失效率之間的關系的模型是極端困難的。 而且，也很難確定不改變設備的失效機理的應力條件。 | 可以有效地用于設備的加速試驗的一個例子是增加工作周期，例如，某系統(tǒng)在正常情況下僅在一個班次中運行，航空電子設備在一次飛行前和飛行中只工作幾個小時，在這種情況下，在試驗中可以增加工作周期，受試系統(tǒng)一天可以連續(xù)工作三個班次，可使航空電子設備循環(huán)工作，在模擬飛行之間只留出足夠使設備的溫度穩(wěn)定在非工作狀態(tài)的時間。這樣，盡管每個工作小時的失效率沒有改變，但是每天發(fā)生的失效數(shù)增加了。 這類加速試驗通常在可靠性鑒定試驗中采用。這實際上是加速試驗的一種形式（盡管通常不這樣認為）。 |
| 零部件級 | 部（零）件的失效模式比設備要少。因此，要確定能有效地加速失效率而又不大改變失效機理的應力就容易得多。 | 通常用一個給定的應力可以對一個或多個支配性失效機理進行加速試驗，例如，電容器的介質擊穿是電壓的函數(shù)，腐蝕是濕度的函數(shù)。在這種情況下要找出失效率與使用應力之間的函數(shù)關系的加速模型相當容易。 因此，加速壽命試驗廣泛應用于部件，并且極力推薦大多數(shù)類型的零件使用這一方法。 |
5.先進的加速試驗
過去，大多數(shù)加速試驗都是使用單一應力和在定應力譜進行的。包括周期固定的周期性應力（如溫度在規(guī)定的上下限之間循環(huán)，溫度的上限和下限以及溫度的變化率是恒定的）。但是，在加速試驗中，應力譜不必是恒定的，也可以使用多種應力的組合。常見的非恒定應力譜和組合應力包括：
- 步進應力試驗；
- 漸進應力試驗；
- 高加速壽命試驗（HALT）（設備級）；
- 高加速應力篩選（HASS）（設備級）；
- 高加速溫度和濕度應力試驗（HAST）（零件級）。
高加速試驗系統(tǒng)性地使用大大超過產(chǎn)品使用中預期水平的環(huán)境激勵，因此需要詳細理解試驗結果。高加速試驗用于確認相關故障，并用來確保產(chǎn)品對高于所要求的強度有足夠的裕度以便能經(jīng)受正常的使用環(huán)境。高加速試驗的目的是大大減少暴露缺陷所需要的時間。該方法可用于研制試驗，也可用于篩選。
HALT（高加速壽命試驗）是一個研制工具，而HASS（高加速應力篩選）是一個篩選工具。它們常?；ハ嗦?lián)合使用。這是兩種相對較新的方法，與傳統(tǒng)的加速試驗方法不同。HAL與THASS的具體目標是改進產(chǎn)品設計，將制造偏差和環(huán)境效應對產(chǎn)品性能和可靠性的影響減至最小。通常定量的壽命或可靠性預計與高加速試驗沒有聯(lián)系。
步進應力譜試驗。使用步進應力譜，試驗樣本首先按事先規(guī)定的時間以某個給定的應力水平試驗一段，然后在高一點的應力水平下再試驗一段時間。不斷增加應力水平繼續(xù)上面的過程，直到某個試驗樣本失效，或者試驗進行到最大應力水平時終止。這種方法能更快速地使產(chǎn)品失效以便分析。但是，用這種方法很難正確建立加速模型，因此很難定量地預計產(chǎn)品在正常使用條件下的壽命。
每一步中應該增加的應力量值與許多變量有關。但是，允許在設計中進行這樣的試驗的一個普遍的法則是：假設產(chǎn)品沒有缺陷，如果最終能以適當?shù)脑Ａ砍鲱A期的使用環(huán)境中的應力，就能保證總體中的每一個體都能經(jīng)受住使用環(huán)境和篩選環(huán)境。（從而提高產(chǎn)品的壽命或可靠性） 漸進應力譜試驗。漸進應力譜或者"梯度試驗"是另一種常見的方法，試驗中應力水平隨時間持續(xù)增加。其優(yōu)點和缺點與步進試驗相同，但有另外一個困難，就是很難精確地控制應力增加的速率。
HALT（高加速壽命試驗）。HALT一詞是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。HALT有時指應力增益壽命試驗（STRIFE），是一種研制試驗，是步進應力試驗的一種強化形式。它一般用來確認設計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設計強度的富裕量，而不用來進行產(chǎn)品壽命或可靠性的定量預計。
HASS（高加速應力篩選）試驗。HASS是加速環(huán)境應力篩選的一種形式。它代表了產(chǎn)品所經(jīng)歷的最嚴酷的環(huán)境，但通常持續(xù)很有限的一段時間。 HASS是為達到"技術的根本極限"而設計的。此時應力的微小增加就會導致失效數(shù)的大量增加。這種根本極限的一個例子是塑料的軟化點。
HAST（高加速溫度和濕度應力試驗）。隨著近來電子技術的高速發(fā)展，幾年前剛剛出現(xiàn)的的加速試驗可能不再適應當今的技術了，尤其是那些專門針對微電子產(chǎn)品的加速試驗。例如，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數(shù)情況下，試驗樣本在整個試驗中不發(fā)生任何失效。不發(fā)生失效的試驗是說明不了什么問題的。而產(chǎn)品在使用中必定會偶爾失效。因此，需要進一步改進加速試驗。HSAT就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發(fā)的方法。
6.加速試驗中應當注意的問題
加速試驗模型是對產(chǎn)品在正常應力水平下以及一個或多個加速應力水平下的關鍵因素進行試驗而導出的。在使用加速環(huán)境時一定要極其注意，以便識別和正確確認在正常使用中將發(fā)生的失效和一般不會發(fā)生的失效。因為加速環(huán)境一般都使用遠高于現(xiàn)場使用時所預期的應力水平，加速應力會導致在實際使用中不可能出現(xiàn)的錯誤的失效機理。例如，將受試產(chǎn)品的溫度升高到超過材料性能改變的溫度點或者休眠激活門限溫度時，就會導致在正常使用中不會發(fā)生的失效的發(fā)生。在這種情況下，解決這種失效只會增加產(chǎn)品的費用，可靠性卻不會有絲毫的提高。理解真正的失效機理來消除失效的根本原因才是極為重要的。